一、貴金屬元素分析儀產(chǎn)品信息：

    本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用于的基本參數(shù)法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內水平。

二、貴金屬元素分析儀應用領域：

    貴金屬(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相關制品的生產(chǎn)、銷售、回收的檢測；

    用于各種金屬合金（銅合金、鐵合金、不銹鋼、錫合金等）的成份分析。

三、功能：

    開放式工作曲線，可以根據(jù)需求建立新工作區(qū)

    經(jīng)驗系數(shù)法和基本參數(shù)法相結合

    測試樣品：各種不同形狀樣品，滿足大樣品測試需求

    安全性能：迷宮式設計，*達到輻射安全指標

    測試操作簡單，實現(xiàn)傻瓜式操作模式

    報告模板多樣化，適應各種測試需求 

四、儀器參數(shù)：

    分析軟件：Ux-6280貴金屬分析軟件

    分析元素種類：26種元素可同時分析

    分析方法：基本參數(shù)法（定量）

    分析元素范圍：Na-U,可同時分析26種元素

    測量范圍：ppm-100%

    測量時間：100－300s

    精確度：0.1%（常量相對誤差）

    分辨率：149±5eV

    管壓：5KV—50KV

    管流：50uA—1000uA

    功率：350W

    外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm3）

    樣品倉尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm3）

    重量：約48Kg

    工作環(huán)境：15－30°C，相對濕度≤85%（不結露）

    工作電源：AC220－240V，50/60Hz，350W

五、標準配置：

    探測器： 2級半導體電制冷；探測器晶體厚度500μm；探測靈敏面積6mm2；Be窗厚度為1mil

    高壓電源：高壓范圍0-50kV，功率50W，8h穩(wěn)定性0.05%

    X射線管：薄鈹窗側窗X射線管（Mo靶、Rh靶）

    高清攝像頭裝置

    精確定位裝置

    自動開蓋裝置